Ratificarán en Cuba valía científica del electromagnetismo


CNEA 2015Santiago de Cuba, 6 abr.- Más de 100 participantes, de ellos una treintena de extranjeros, ratificarán aquí, durante la VI Conferencia de Electromagnetismo Aplicado CNEA 2015, la valía científica de esta ciencia de gran repercusión en la agricultura, medicina y eficiencia de los sistemas ingenieros.

A la cita, que se realizará los primeros días del próximo mes de mayo, han confirmado su asistencia delegados de México, Colombia, Chile, Ecuador y los Estados Unidos, aunque especialistas de otras naciones han mostrado interés en participar.

Según Licenciada Yadira Argota Pérez, Especialista de Promoción y Comunicación Integral del Centro Nacional de Electromagnetismo Aplicado (CNEA), el encuentro propiciará un espacio para el intercambio científico, la creación de una red de colegas e involucrar a nuevos profesionales a ese campo del conocimiento.

Precisó, además, que han confirmado su participación dos conferencistas de gran notoriedad internacional: el Dr. Alfredo Odón Rodríguez, tutor de varios programas de posgrado en física médica e ingeniería biomédica en México, y el Dr. James C. Lin, profesor emérito de la Universidad de Illinois, en Chicago.

Dentro del programa del evento, resaltan como temáticas fundamentales el uso del electromagnetismo en la industria, en la rama agropecuaria, la biotecnología y la medicina, además de su compatibilidad con la metrología.

También, como incentivo mayor, sesionará en la cita el V Foro de Comunicación de las Ciencias, una iniciativa que aboga por incrementar la generalización de los resultados científico-técnicos a partir de la comunicación y sus diversas herramientas, como son las Nuevas Tecnologías de la Información.

La sexta edición de la Conferencia de Electromagnetismo Aplicado constituye un espacio para vincular los resultados investigativos con la sociedad cubana y latinoamericana, en aras de lograr un desarrollo sostenible.

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